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以不接觸光學定位方法瞄準被測長度,主要用于測量線紋距離的精密長度測量工具。 比長儀一般采用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準定位部件,并以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度,與被測長度比較而確定量值。 ......(本文共 531 字 , 1 張圖) [閱讀本文] >>