基于灰色模型GM(1,N)的運(yùn)行復(fù)合絕緣子硅橡膠材料剩余壽命研究

摘要： 由于惡劣的運(yùn)行環(huán)境，復(fù)合絕緣子往往不能達(dá)到廠家設(shè)定的運(yùn)行年限，其剩余壽命逐漸成為研究重點(diǎn)。筆者以某東部地區(qū)運(yùn)行0～14年、不同劣化程度的正常運(yùn)行復(fù)合絕緣子為研究對(duì)象，采用靜態(tài)接觸角法、硬度測(cè)試等方法對(duì)其老化特性進(jìn)行分析。隨后基于測(cè)試結(jié)果提出了一系列與運(yùn)行年限具有顯著相關(guān)性的壽命預(yù)測(cè)參數(shù)，并利用灰色模型提出剩余壽命計(jì)算方法。研究結(jié)果表明，通過(guò)本研究剩余壽命模型得到的復(fù)合絕緣子理論... （共8頁(yè)）