一種具有紋波消除技術(shù)的10 bit SAR ADC
半導(dǎo)體技術(shù)
頁數(shù)： 10 2024-01-24
摘要： 逐次逼近寄存器模數(shù)轉(zhuǎn)換器(SAR ADC)在逐次逼近的過程中，電容的切換會(huì)使參考電壓上出現(xiàn)參考紋波噪聲，該噪聲會(huì)影響比較器的判定，進(jìn)而輸出錯(cuò)誤的比較結(jié)果。針對(duì)該問題，基于CMOS 0.5μm工藝，設(shè)計(jì)了一種具有紋波消除技術(shù)的10 bit SAR ADC。通過增加紋波至比較器輸入端的額外路徑，將參考紋波滿擺幅輸入至比較器中；同時(shí)設(shè)計(jì)了消除數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)模塊，對(duì)參考紋波進(jìn)行采... （共10頁）
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