基于蒙特卡羅模擬研究鍺死層對高純鍺探測效率的影響

摘要： 為了更精確方便地分析測量樣品的放射性含量，本文提出了利用蒙特卡羅應(yīng)用軟件工具（Geant4）獲取高純度鍺（HPGe）探測器的全能峰效率曲線，進行放射性樣品測量中全能峰效率的模擬及修正。測量距離高純鍺探頭25 cm處探測器對點源中不同特征能量γ射線的實驗探測效率，與模擬探測效率進行對比，采用Geant4模擬方式研究了高純鍺晶體表面死層對探測器效率的影響。通過修正上、下死層厚度依次... （共5頁）