一種支持SoC數(shù)字電路老化及壽命的評估方法

摘要： 使用Spice可靠性仿真技術和高溫穩(wěn)態(tài)壽命(HTOL)實驗相結合的方法，研究不同的MOSFET器件組成的環(huán)振電路在持續(xù)翻轉狀態(tài)下，不同應力時間和應力電壓對其壽命退化的影響。依據(jù)仿真結果和Power-Law模型建立數(shù)字電路的壽命預測理論模型。通過HTOL實驗驗證模型的準確性。結果表明，隨著時間的增加，器件的壽命退化率逐漸增加，且隨著時間的推移，壽命的變化率越來越小。隨著應力電壓的... （共6頁）