基于YOLOv5＿4layers的PCB小目標缺陷識別方法

摘要： 針對PCB表面缺陷分辨率低、小目標性以及多樣性等問題，提出了一種基于YOLOv5＿4layers的PCB小目標缺陷識別方法。該方法在YOLOv5架構的基礎上，通過新增采樣層的方式添加小目標檢測層，優(yōu)化特征金字塔模型，提升小目標特征提取性能，實現小目標缺陷識別。在調整合適的錨框規(guī)格后，改進后的模型在輸入640像素×640像素圖像時，相較原模型識別精確率提升了7.5%。在輸入736... （共5頁）