密封電子元器件與裝置多余物檢測(cè)發(fā)展綜述

摘要： 密封電子元器件與裝置作為航天系統(tǒng)中的重要組成部分，具有高精密性、高可靠性以及高復(fù)雜性的典型特點(diǎn)，而多余物問題是嚴(yán)重影響其高可靠性的主要因素之一。隨著航天技術(shù)的快速發(fā)展，多余物檢測(cè)技術(shù)也在不斷改進(jìn)與深入。該文以認(rèn)識(shí)多余物、控制多余物產(chǎn)生以及檢測(cè)多余物為主線，圍繞多余物的防控方法、檢測(cè)方法、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行綜合論述。著重分析了檢測(cè)方法中的顆粒碰撞噪聲檢測(cè)（PIND）方法，分別從小型元器... （共29頁）